デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードの動作特性 ―キャリアの挙動によるリカバリー特性の解析―

Publication Information

Title

Japanese:	デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードの動作特性 ―キャリアの挙動によるリカバリー特性の解析―
English:	Operating Performance of Parallel-Connected pin Diodes Using a Physics-Based Device Model : Reverse-Recovery Analysis Considering Carrier Dynamics

Author

Japanese:	杉本貴之, 冨永真志, 漆畑廣明, 藤田英明, 赤木泰文, 堀口剛司, 木ノ内伸一, 大井健史.
English:	Takayuki Sugimoto, Shinji Tominaga, Hiroaki Urushibata, Hideaki Fujita, Hirofumi Akagi, Takeshi Horiguchi, Shin-ichi Kinouchi, Takeshi Oi.

Language

Japanese

Journal/Book name

Japanese:	電気学会研究会資料
English:

Volume, Number, Page

no. SPC-11-017 pp. 97-102

Published date

Jan. 21, 2011

Publisher

Japanese:
English:

Conference name

Japanese:	半導体電力変換研究会
English:

Conference site

Japanese:
English: