微細半導体プロセスにおけるシングルイベント耐性強化技術の検討

Publication Information

Title

Japanese:	微細半導体プロセスにおけるシングルイベント耐性強化技術の検討
English:	A Study of Single Event Mitigation Techniques for Nano-Scale Semiconductor Devices

Author

Japanese:	丸明史, 松田晃史, 吉本護.
English:	Akifumi Maru, Akifumi Matsuda, MAMORU YOSHIMOTO.

Language

Japanese

Journal/Book name

Japanese:
English:

Volume, Number, Page

Published date

Mar. 5, 2018

Publisher

Japanese:
English:

Conference name

Japanese:	2018年第65回応用物理学会春季学術講演会
English:	The 65th JSAP Spring Meeting, 2018

Conference site

Japanese:	東京
English:	Tokyo

Official URL