3.3-kV Si-IGBTモジュールの連続スイッチング試験システムと損失評価

Publication Information

Title

Japanese:	3.3-kV Si-IGBTモジュールの連続スイッチング試験システムと損失評価
English:

Author

Japanese:	三井陽平, 生出珠之助, 萩原誠, 赤木泰文, 市川耕作.
English:	Yohei Mitsui, Tamanosuke Oide, Makoto Hagiwara, Hirofumi Akagi, 市川耕作.

Language

Japanese

Journal/Book name

Japanese:
English:

Volume, Number, Page

SPC-17-042

Published date

Jan. 2017

Publisher

Japanese:
English:

Conference name

Japanese:	電気学会研究会資料. SPC, 半導体電力変換研究会
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Conference site

Japanese:
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