平面型シリコン量子ドットにおける電荷ノイズの電子数依存性

Publication Information

Title

Japanese:	平面型シリコン量子ドットにおける電荷ノイズの電子数依存性
English:

Author

Japanese:	溝口来成, 和田陸久, 松岡竜太郎, 柳至, 土屋龍太, 峰利之, 久本大, 水野弘之, 太田俊輔, 米田淳, 小寺哲.
English:	Raisei Mizokuchi, Riku Wada, Ryutaro Matsuoka, 柳至, Ryuta Tsuchiya, 峰利之, Digh Hisamoto, 水野弘之, Shunsuke Ota, Jun Yoneda, Tetsuo Kodera.

Language

Japanese

Journal/Book name

Japanese:
English:

Volume, Number, Page

Published date

Mar. 2025

Publisher

Japanese:
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Conference name

Japanese:	第72回応用物理学会春季学術講演会
English:

Conference site

Japanese:	千葉県
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