Statistical Parameter Extraction for Intra- and Inter-chip Variabilities of Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor Characteristics

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Statistical Parameter Extraction for Intra- and Inter-chip Variabilities of Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor Characteristics

著者

和文:	Kenichi Okada, Hidetoshi Onodera.
英文:	Kenichi Okada, Hidetoshi Onodera.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

Vol. 44 No. 1A pp. 131-134

出版年月

2005年1月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

開催地

和文:
英文: