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タイトル
和文:
英文:
Reliability of Czochralski-grown beta-BaB2O4 (BBO) devices
著者
和文:
Nobuhiko Umezu, Tatsuo Fukui, Tsutomu Okamoto,
和田 裕之
, Koichi Tatsuki, Kenji Kondo, Shigeo Kubota.
英文:
Nobuhiko Umezu, Tatsuo Fukui, Tsutomu Okamoto,
Hiroyuki Wada
, Koichi Tatsuki, Kenji Kondo, Shigeo Kubota.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
1st JAERI-Kansai International Workshop on Ultrashort-Pulse Ultrahigh-Power Lasers and Simulation for Laser-Plasma Interactions
巻, 号, ページ
pp. 162-167
出版年月
1998年4月
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
1st JAERI-Kansai International Workshop on Ultrashort-Pulse Ultrahigh-Power Lasers and Simulation for Laser-Plasma Interactions
開催地
和文:
英文:
©2007
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