Reliability of Czochralski-grown beta-BaB2O4 (BBO) devices

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Reliability of Czochralski-grown beta-BaB2O4 (BBO) devices

著者

和文:	Nobuhiko Umezu, Tatsuo Fukui, Tsutomu Okamoto, 和田裕之, Koichi Tatsuki, Kenji Kondo, Shigeo Kubota.
英文:	Nobuhiko Umezu, Tatsuo Fukui, Tsutomu Okamoto, Hiroyuki Wada, Koichi Tatsuki, Kenji Kondo, Shigeo Kubota.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	SPIE-The International Society for Optical Engineering (Laser-Induced Damage in Optical Materials)

巻, 号, ページ

Vol. 3244 pp. 124-129

出版年月

1998年4月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	SPIE-The International Society for Optical Engineering (Laser-Induced Damage in Optical Materials)

開催地

和文:
英文: