On-Wafer Measurement of Pseudo Differential Transmission Line for Global Interconnect in Si LSI

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	On-Wafer Measurement of Pseudo Differential Transmission Line for Global Interconnect in Si LSI

著者

和文:	Hideyuki Sugita, Hiroyuki Ito, Shinichiro Gomi, Kenichi Okada, Kazuya Masu.
英文:	Hideyuki Sugita, Hiroyuki Ito, Shinichiro Gomi, Kenichi Okada, Kazuya Masu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai

巻, 号, ページ

pp. 35-36

出版年月

2005年4月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:	Kyoto