Drain-Voltage Dependency of Memory Effects in W-CDMA Base Station Digital Predistortion Linearizers with Compound Semiconductor Power Amplifiers

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Drain-Voltage Dependency of Memory Effects in W-CDMA Base Station Digital Predistortion Linearizers with Compound Semiconductor Power Amplifiers

著者

和文:	高野健, 大石泰之, 馬庭透, Hiroyuki Hayashi, Toshihide Kikkawa, 荒木純道.
英文:	Takeshi Takano, Yasuyuki Oishi, Toru Maniwa, Hiroyuki Hayashi, Toshihide Kikkawa, Kiyomichi Araki.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS

巻, 号, ページ

Vol. 45 No. 6 pp. 551-554

出版年月

2005年6月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: