原子間力顕微鏡を用いた微小スケール温度場の計測

論文・著書情報

タイトル

和文:	原子間力顕微鏡を用いた微小スケール温度場の計測
英文:	Microscale Temperature Measurement using the Atomic Force Microscope

著者

和文:	中別府修, 土方邦夫, M. Chandrachood, J. Lai, A. Majumdar.
英文:	中別府修, 土方邦夫, M. Chandrachood, J. Lai, A. Majumdar.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	日本機械学会論文集(B編)
英文:

巻, 号, ページ

Vol. 62 No. 593 pp. 284-290

出版年月

1996年

出版者

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会議名称

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開催地

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