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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Automatic defect classification in visual inspection of semiconductors using neural networks 
著者
和文: 亀山啓輔.  
英文: KEISUKE KAMEYAMA.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文:電子情報通信学会英文論文誌D 
英文:IEICE Transactions on Information and Systems 
巻, 号, ページ Vol. E81D    No. 11    pp. 1261-1271
出版年月 1998年 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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