三次元座標測定用ステレオビジョンプローブの開発（逆解析によるぼけた画像からの高精度エッジ位置検出） | T2R2 東京工業大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	三次元座標測定用ステレオビジョンプローブの開発（逆解析によるぼけた画像からの高精度エッジ位置検出）
英文:

著者

和文:	早瀬仁則, 中山　智, 初澤　毅, 丸山一男.
英文:	早瀬仁則, 中山　智, 初澤　毅, 丸山一男.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	精密工学会誌
英文:

巻, 号, ページ

Vol. 65 No. 6 pp. 820-824

出版年月

1999年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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英文:

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