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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Image Contrast of Dislocations and Atomic Steps on (111) Silicon Surface in Reflection Electron Microscopy 
著者
和文: N.Osakabe, Y.Tanishiro, K.Yagi, G.Honjo.  
英文: N.Osakabe, Y.Tanishiro, K.Yagi, G.Honjo.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Surface Sci. 
巻, 号, ページ Vol. 102        pp. 424-442
出版年月 1981年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
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英文: 
開催地
和文: 
英文: 

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