Double Tilt Specimen Holder for Contrast Analyses in Reflection Electron Microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Double Tilt Specimen Holder for Contrast Analyses in Reflection Electron Microscopy

著者

和文:	Y.Tanishiro, K.Takayanagi, K.Kobayashi, K.Yagi.
英文:	Y.Tanishiro, K.Takayanagi, K.Kobayashi, K.Yagi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc.10th International Congress on Electron Microscopy (Hamburg, 1982)

巻, 号, ページ

Vol. 2 pp. 299-300

出版年月

1982年

出版者

和文:
英文:	Proc.10th International Congress on Electron Microscopy (Hamburg, 1982)

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: