English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京工業大学
東京工業大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Influence of ultra-thin YSZ layer on heteroepitaxial CeO2/YSZ/Si(001) films analyzed by X-ray reciprocal space map
著者
和文:
Chun-Hua Chen, Atsushi Saiki, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki,
Nobuyasu Mizutani
.
英文:
Chun-Hua Chen, Atsushi Saiki, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki,
Nobuyasu Mizutani
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
J. of Crystal Growth
巻, 号, ページ
Vol. 219 pp. 253-262
出版年月
2000年
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
©2007
Tokyo Institute of Technology All rights reserved.