Novel Large-Area High-Resolution-Transmission-Electron-Microscopy Technique using Specimens Fabricated by a Focused Ion Beam Apparatus

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Novel Large-Area High-Resolution-Transmission-Electron-Microscopy Technique using Specimens Fabricated by a Focused Ion Beam Apparatus

著者

和文:	H. SUEMATSU, K. UDO, K. HISATSUNE, K. YATSUI, H. YAMAUCHI.
英文:	H. SUEMATSU, K. UDO, K. HISATSUNE, K. YATSUI, H. YAMAUCHI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

Vol. 40 pp. 1100-1103

出版年月

2001年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: