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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Film Thickness Dependence of Structure and Dielectric Property of Pb(Mg
1/3
Nb
2/3
)O
3
/ BaTiO
3
/Pt/Ti/SiO
2
/Si by Grazing Incident X-ray Diffraction
著者
和文:
Chun-Hua Chen, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki,
Nobuyasu Mizutani
.
英文:
Chun-Hua Chen, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki,
Nobuyasu Mizutani
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
Extended Abstracts of the 2nd Asian Meeting on Electroceramics
巻, 号, ページ
No. 1A11 pp. 18
出版年月
2001年
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
©2007
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