Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Near-Field Photocurrent Measurements of Si p-n Junction Under the Reverse-Bias Condition 
著者
和文: H.Fukuda, M.Ohtsu.  
英文: H.Fukuda, M.Ohtsu.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Jpn.J.Appl.Phys. 
巻, 号, ページ Vol. 40-2    No. 3B    pp. L286-L288
出版年月 2001年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.