Simultaneous STM and UHV electron microscope observation of silicon naowires extracted from Si(111) surface

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Simultaneous STM and UHV electron microscope observation of silicon naowires extracted from Si(111) surface

著者

和文:	Y.Naitoh, K.Takayanagi, Y.Ohshima, H.Hirayama.
英文:	Y.Naitoh, K.Takayanagi, Y.Ohshima, H.Hirayama.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	J.Electron Microscopy

巻, 号, ページ

Vol. 49 pp. 211-216

出版年月

2000年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: