High Throughput Characterization of Magnetic Semiconductor Thin Films with a Scanning SQUID Microscope

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	High Throughput Characterization of Magnetic Semiconductor Thin Films with a Scanning SQUID Microscope

著者

和文:	X. J. Fan, C. M. Chen, M. Murakami, R. Takahashi, Y. Matsumoto, T. Hasegawa, T. Fukumura, M. Kawasaki, P. Ahmet, T. Chikyow, H. Koinuma.
英文:	X. J. Fan, C. M. Chen, M. Murakami, R. Takahashi, Y. Matsumoto, T. Hasegawa, T. Fukumura, M. Kawasaki, P. Ahmet, T. Chikyow, H. Koinuma.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. MRS Fall Meeting

巻, 号, ページ

pp. S2.7.1-S2.7.6

出版年月

2001年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: