Development of Scanning Microwave Microscope with a Lumped Constant Resonator Probe for High-throughput Characterization of Combinatorial Dielectric Materials

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Development of Scanning Microwave Microscope with a Lumped Constant Resonator Probe for High-throughput Characterization of Combinatorial Dielectric Materials

著者

和文:	N.Okazaki, H.Odagawa, Y.Cho, T.Nagamura, D.Komiyama, T.Koida, H.Minami, P.Ahmet, T.Fukumura, Y.Matsumoto, M.Kawasaki, T.Chikyow, H.Koinuma, T.Hasegawa.
英文:	N.Okazaki, H.Odagawa, Y.Cho, T.Nagamura, D.Komiyama, T.Koida, H.Minami, P.Ahmet, T.Fukumura, Y.Matsumoto, M.Kawasaki, T.Chikyow, H.Koinuma, T.Hasegawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Appl. Surf. Sci

巻, 号, ページ

Vol. 189 pp. 222-226

出版年月

2002年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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