Origin of reentrant RHEED intensity oscillation observed during MBE growth of GaAs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Origin of reentrant RHEED intensity oscillation observed during MBE growth of GaAs

著者

和文:	A. Nagashima, T. Kawakami, J. Yoshino.
英文:	A. Nagashima, T. Kawakami, J. Yoshino.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	掲載紙名
英文:	Extended abstract of 21st Electronic Materials Symposium, Izu-Nagaoka

巻, 号, ページ

pp. 155-156

出版年月

2002年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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英文:

開催地

和文:
英文: