Effective Escape Depth of Photoelectrons for Hydrocarbon Films in Total Electron Yield Measurement at the C K-Edge

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Effective Escape Depth of Photoelectrons for Hydrocarbon Films in Total Electron Yield Measurement at the C K-Edge

著者

和文:	H. Ohara, Y. Yamamoto, K. Kajikawa, H. Ishii, K. Seki, Y. Ouchi.
英文:	H. Ohara, Y. Yamamoto, K. Kajikawa, H. Ishii, K. Seki, Y. Ouchi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	J. Synchrotron Rad.

巻, 号, ページ

Vol. 6 pp. 803-804

出版年月

1999年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: