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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Mapping og two-dimensional lattice distortions in silicon crystals at submicrometer resolution from X-ray rocking-curve data 
著者
和文: 坂田修身　.  
英文: OSAMI SAKATA.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:J. Appl. Cryst 
巻, 号, ページ Vol. 27        pp. 338-344
出版年月 1994年 
出版者
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会議名称
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開催地
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英文: 

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