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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Inter-facial roughness of Si┣D21-X┫D2 Gex/Si multilayer structures on Si(111) probed by X-ray scatlering 
著者
和文: 坂田修身　.  
英文: OSAMI SAKATA.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:J. Phys. : Condens. Matter 
巻, 号, ページ Vol. 9        pp. 4521-4533
出版年月 1997年 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 

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