Characterization of Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>/SiC nanocomposite by Raman scattering and XPS

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of Si₃N₄/SiC nanocomposite by Raman scattering and XPS

著者

和文:	W.S.Cho, Y.S.Oh, C.S.Kim, M.Osada, M.Kakihana, D.S.Lim, D.S.Cheong.
英文:	W.S.Cho, Y.S.Oh, C.S.Kim, M.Osada, M.Kakihana, D.S.Lim, D.S.Cheong.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Alloys and Compounds

巻, 号, ページ

Vol. 285 pp. 255-259

出版年月

1999年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: