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タイトル
和文:
強磁性体薄膜の残留磁化がMOSトランジスタのI-V特性に及ぼす影響(II):ゲートをはさんで作製した磁気回路・対向パターン構造によるI-V特性
英文:
Effect of Remanent Magnetization of Ferromagnetic Thin Film on I-V Characteristics of MOS Transistor: I-V Characteristics of Circular and Opposite Patterned Ferromagnetic Thin Film Across Gate Area
著者
和文:
水上 智, 清水 完, 脇谷尚樹, 篠崎和夫,
水谷惟恭
.
英文:
水上 智, 清水 完, 脇谷尚樹, 篠崎和夫,
水谷惟恭
.
言語
Japanese
掲載誌/書名
和文:
日本セラミックス協会電子材料部会第22回電子材料研究討論会講演予稿集
英文:
Extended Abstraccts of the 22nd Electronics Division Meeting
巻, 号, ページ
No. 1B07 pp. 28
出版年月
2002年
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
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