Construction of a cost-effective failure analysis service network microelectronics failure analysis service in Japan

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Construction of a cost-effective failure analysis service network microelectronics failure analysis service in Japan

著者

和文:	S. Nakajima, S. Nakamura, K. Kuji, T. Ueki, T. Ajioka, T. Sakai.
英文:	S. Nakajima, S. Nakamura, K. Kuji, T. Ueki, T. Ajioka, T. Sakai.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Microelectronics Reliability

巻, 号, ページ

Vol. 42 pp. 511-521

出版年月

2002年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
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開催地

和文:
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