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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:A Bispectrum Feature Extraction Enhanced Structure Damage Detection Approach 
著者
和文: J.Chen, I. Hagiwara, X.Su, Q. Shi.  
英文: J.Chen, I. Hagiwara, X.Su, Q. Shi.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:JSME International Journal Series C 
巻, 号, ページ Vol. 45    No. 1    pp. 121-126
出版年月 2002年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
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開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1299/jsmec.45.121

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