Statistical Modeling of Device Characteristics with Systematic Variability

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Statistical Modeling of Device Characteristics with Systematic Variability

著者

和文:	岡田健一, Hidetoshi Onodera.
英文:	Kenichi Okada, Hidetoshi Onodera.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Science

巻, 号, ページ

Vol. E84-A No. 2 pp. 529-536

出版年月

2001年2月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Science

開催地

和文:
英文: