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論文・著書情報


タイトル
和文:トランジスタ特性におけるチップ内ばらつきのモデル化手法 
英文:Statistical Modeling of MOS Transistors with Intra-chip Variability 
著者
和文: 岡田健一, 小野寺秀俊.  
英文: Kenichi Okada, Hidetoshi Onodera.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:情報処理学会論文誌 
英文:IPSJ Transactions 
巻, 号, ページ Vol. 43    No. 5    pp. 1330-1337
出版年月 2002年5月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:情報処理学会論文誌 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

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