A Statistical Gate Delay Model for Intra-chip and Inter-chip Variabilities

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A Statistical Gate Delay Model for Intra-chip and Inter-chip Variabilities

著者

和文:	Kenichi Okada, Kento Yamaoka, Hidetoshi Onodera.
英文:	Kenichi Okada, Kento Yamaoka, Hidetoshi Onodera.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE/ACM Asia South Passific Design Automation Conference

巻, 号, ページ

pp. 31-36

出版年月

2003年1月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:	Kokura