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論文・著書情報


タイトル
和文:トランジスタ製造ばらつきにおけるチップ内特性変動を考慮した統計遅延解析手法 
英文: 
著者
和文: 岡田健一, 藤田智弘, 小野寺秀俊.  
英文: 岡田健一, 藤田智弘, 小野寺秀俊.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:電子情報通信学会 デザインガイア 
英文: 
巻, 号, ページ Vol. VLD2001    No. 113    pp. 7-12
出版年月 2001年11月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文:小倉 北九州国際会議場 
英文: 

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