Statistical Gate-delay Modeling with Intra-gate Variability

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Statistical Gate-delay Modeling with Intra-gate Variability

著者

和文:	Kenichi Okada, Kento Yamaoka, Hidetoshi Onodera.
英文:	Kenichi Okada, Kento Yamaoka, Hidetoshi Onodera.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	The Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information Technologies

巻, 号, ページ

pp. 102-108

出版年月

2003年4月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:	Hiroshima