Statistical Modeling of Gate-delay Variation with Consideration of Intra-gate Variability

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Statistical Modeling of Gate-delay Variation with Consideration of Intra-gate Variability

著者

和文:	Kenichi Okada, Kento Yamaoka, Hidetoshi Onodera.
英文:	Kenichi Okada, Kento Yamaoka, Hidetoshi Onodera.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE International Symposium on Circuits and Systems

巻, 号, ページ

Vol. V pp. 513-516

出版年月

2003年5月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:	Bangkok, Tailand