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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Characterization of silicon-on-insulator films recrystallized by an obliquely scanned pseudoline electron beam(共著) 
著者
和文: 石原宏.  
英文: HIROSHI ISHIWARA.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:J. Appl. Phys. 
巻, 号, ページ Vol. 61        pp. 3
出版年月 1987年 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 

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