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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:A study of topographic effects on chemical force microscopy using adhesive force mapping. 
著者
和文: 佐藤 史亘, H. Okui, 秋葉 宇一, 菅 耕作, 藤平 正道.  
英文: F. Sato, H. Okui, U. Akiba, K. Suga, M. Fujihira.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Ultramicroscopy 
巻, 号, ページ Vol. 97        pp. 303-314
出版年月 2003年 
出版者
和文: 
英文:Elsevier 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1016/S0304-3991(03)00056-1

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