Systematic Feature Extraction Using Mask Patterns for High Precision Image Analysis

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Systematic Feature Extraction Using Mask Patterns for High Precision Image Analysis

著者

和文:	Takahiro Toyoda, Osamu Hasegawa.
英文:	Takahiro Toyoda, Osamu Hasegawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. Joint 2nd International Conference on Soft Computing and Intelligent Systems and 5th International Symposium on Advanced Intelligent Systems (SCIS & ISIS)

巻, 号, ページ

Vol. CD-ROM pp. THE-4-3

出版年月

2004年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: