Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Estimation of Power Reduction by On-Chip Transmission Line for 45nm Technology 
著者
和文: 岡田 健一, Takumi Uezono, 益 一哉.  
英文: Kenichi Okada, Takumi Uezono, Kazuya Masu.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         pp. 181-190
出版年月 2006年9月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS) 
開催地
和文: 
英文:Montpellier, France 

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.