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タイトル
和文:
高分解能分析電子顕微鏡による二酸化セリウム/イットリア安定化ジルコニア/シリコンヘテロ界面構造の原子スケール構造評価
英文:
Atomic-Scale Structure Investigation of CeO
2
/YSZ/Si Hetero-Interface by High Resolution Analytical Electron Microscope
著者
和文:
木口賢紀
,
脇谷尚樹
,
水谷惟恭
,
篠崎和夫
.
英文:
TAKANORI KIGUCHI
,
naoki wakiya
,
nobuyasu mizutani
,
KAZUO SHINOZAKI
.
言語
Japanese
掲載誌/書名
和文:
分析化学
英文:
巻, 号, ページ
Vol. 55 No. 6 pp. 419-426
出版年月
2006年6月
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
DOI
https://doi.org/10.2116/bunsekikagaku.55.419
©2007
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