パルス圧縮技術を併用した四探触子TOFD法による欠陥位置および高さ測定 | T2R2 東京工業大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	パルス圧縮技術を併用した四探触子TOFD法による欠陥位置および高さ測定
英文:

著者

和文:	黒川悠, 水谷義弘, 井上裕嗣, 黛正己.
英文:	黒川悠, 水谷義弘, 井上裕嗣, 黛正己.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	日本機械学会論文集A編
英文:

巻, 号, ページ

Vol. 72 No. 12 pp. 2030

出版年月

2006年12月

出版者

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会議名称

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開催地

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英文:

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