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論文・著書情報


タイトル
和文:低温コンダクタンス法によるSiO2/Ge MIS界面準位の特性評価 
英文: 
著者
和文: 松原寛, 熊谷寛, 菅原聡, 高木信一.  
英文: 松原寛, 熊谷寛, SATOSHI SUGAHARA, 高木信一.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:第54回応用物理学関係連合講演会 
英文: 
巻, 号, ページ         p. 30a-ZH-11
出版年月 2007年3月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:第54回応用物理学関係連合講演会, 相模原, 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

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