Inverse Scattering Analysis for Imaging Defects in Anisotropic Solid

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Inverse Scattering Analysis for Imaging Defects in Anisotropic Solid

著者

和文:	廣瀬壮一, Alan T. Tan, 木本和志.
英文:	Sohichi Hirose, Alan T. Tan, Kazushi Kimoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Abstracts of 2007 IEEE International Ultrasonics Symposium and Short Courses

巻, 号, ページ

Page 450

出版年月

2007年10月

出版者

和文:
英文:	IEEE

会議名称

和文:
英文:	2007 IEEE International Ultrasonics Symposium and Short Courses

開催地

和文:
英文:	New York Hilton & Towers