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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Contrast analysis of dislocation images in TEM-Cathodoluminescence technique 
著者
和文: 山本直紀.  
英文: NAOKI YAMAMOTO.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:J. Elect. Microscopy 
巻, 号, ページ Vol. 54        p. 223
出版年月 2005年8月 
出版者
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会議名称
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開催地
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英文: 
DOI https://doi.org/10.1093/jmicro/dfi026

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