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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:High temperature scanning Hall probe microscopy using AlGaN/GaN two dimensional electron gas micro-Hall probes 
著者
和文: SANDHUAdarsh.  
英文: Adarsh SANDHU.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Journal of Applied Physics 
巻, 号, ページ Vol. 101        p. 09K105
出版年月 2007年5月 
出版者
和文: 
英文:American Institute of Physics 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

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