De-Embedding of Lumped-Element Characteristics with the Aid of EM Analysis

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	De-Embedding of Lumped-Element Characteristics with the Aid of EM Analysis

著者

和文:	平野拓一, 廣川二郎, 安藤真, 中野洋, 平地康剛.
英文:	Takuichi Hirano, Jiro Hirokawa, Makoto Ando, Hiroshi Nakano, Yasutake Hirachi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE AP-S International Symposium and USNC/URSI National Radio Science Meeting

巻, 号, ページ

出版年月

2008年7月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEEE AP-S International Symposium and USNC/URSI National Radio Science Meeting

開催地

和文:
英文:	San Diego, USA

DOI