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論文・著書情報


タイトル
和文:定量的指標による特許の技術的範囲の変動リスク予測スキームの提案 
英文: 
著者
和文: 安彦元, 田中義敏, 中川秀敏.  
英文: Gen Abiko, Yoshitoshi Tanaka, Hidetoshi Nakagawa.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文:The Journal of Science Policy and Research Management 
巻, 号, ページ Vol. 23    No. 2    pp. 150-162
出版年月 2008年4月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

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