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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Investigation of All-Optical Error Detection Circuit using SOA-MZI-based XOR Gates at 10Gbps 
著者
和文: 鈴木 昌弘, 植之原 裕行.  
英文: Masahiro Suzuki, Hiroyuki Uenohara.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Electronics Letters 
巻, 号, ページ Vol. 45    No. 4    pp. 224-225
出版年月 2009年2月 
出版者
和文: 
英文:The Institution of Engineering and Technology 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1049/el:20093461
アブストラクト We investigated the operation of an all-optical error detection circuit consisting of an all-optical exclusive OR (XOR) gate for an encoder and two-stage all-optical XOR gates for a decoder using SOA-MZI’s. 10Gbps and 40Gbps operation of all-optical XOR gates were obtained. We achieved error signals in the syndrome at 10Gbps based on the all-optical XOR gates for the first time.

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.