De-Embedding Method Using EM Simulator for Device Characterization and Error Estimation of Conventional Method Using Open/Short-TEG

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	De-Embedding Method Using EM Simulator for Device Characterization and Error Estimation of Conventional Method Using Open/Short-TEG

著者

和文:	平野拓一, 中野洋, 平地康剛, 廣川二郎, 安藤真.
英文:	Takuichi Hirano, Hiroshi Nakano, Yasutake Hirachi, Jiro Hirokawa, Makoto Ando.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. of INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ANTENNAS AND PROPAGATION

巻, 号, ページ

出版年月

2008年10月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ANTENNAS AND PROPAGATION

開催地

和文:
英文:	Taipei, Taiwan