Two-wavelength single-shot interferometry for precise surface profiling.

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Two-wavelength single-shot interferometry for precise surface profiling.

著者

和文:	Suzuki, K., 小川英光, Kitagawa, K., 杉山将.
英文:	Suzuki, K., Ogawa, H., Kitagawa, K., Sugiyama, M..

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	In Proceeding of Optical Measurement Symposium 2008

巻, 号, ページ

pp. 35-38

出版年月

2008年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Optical Measurement Symposium 2008

開催地

和文:
英文:	Yokohama, Japan